更新時間:2024-10-18
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增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀介紹:
增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移,實現無人值守多點測量,測量軟件置入先進的EFP算法及解譜技術,解決了諸多業界難題。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
增駿XAD-200膜厚儀/臘厚分析儀器產品特點:
核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度)
配備全自動可編程移動平臺,可實現無人值守,對成百上千個樣品進行全自動檢測
涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)
成分分析范圍:鋁Al(13)- 鈾U(92)
RoHS、鹵素有害元素檢測
人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作
標配四準直器自動切換
配有微光聚集技術,最近測距光斑擴散度小于10%